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Catalogue : Series overview : Institute Series : Erlanger Berichte Mikroelektronik

Erlanger Berichte Mikroelektronik

Editor

Prof. Dr.-Ing. H. Ryssel and Prof. Dr. rer. nat. L. Frey
Erlangen

 
www.leb.eei.uni-erlangen.de/index.php
www.leb.eei.uni-erlangen.de/index.php
 
Title overall: 50 Page 1 of 5
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more... 1. Dirk Lewke
Untersuchung und Minimierung lateraler Rissabweichungen beim Thermischen Laserstrahlseparieren
Volume: 2018,1
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-5929-8, May 2018

Das Thermische Laserstrahlseparieren (TLS) ist eine auf Laser basierte Trenntechnologie für die Halbleiterindustrie, bei der durch thermisch induzierte mechanische Spannungen gezielt Risse durch Siliciumscheiben ...

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48,80 €
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more... 2. Andreas Hürner
SiC-BIFET
Ein bipolarer SiC-Feldeffekttransistor für das Mittelspannungsnetz
Volume: 2017,1
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-5456-9, September 2017

Online publication (PDF)

Diese Arbeit befasst sich schwerpunktmäßig mit der Erforschung und Bewertung der Durchlasseigenschaften von 10kV-SiC-BIFETs mit einer nominellen Sperrfestigkeit von 10kV. Hierzu wurden 10kV-SiC-p-BIFETs ...

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48,80 €
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more... 3. Stefan Johannes Noll
Prozessabhängigkeit der Feldeffektbeweglichkeit und Stabilität der Einsatzspannung von 4H-SiC MOS Transistoren
Volume: 2016,3
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-4872-8, November 2016

Neue Halbleitermaterialien wie Siliciumcarbid (SiC) haben das Potential, Verluste in leistungselektronischen Systemen stark zu verringern. Bei Siliciumcarbid bestehen jedoch noch die Herausforderungen, ...

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48,80 €
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more... 4. Sebastian Polster
Nanopartikuläre ZnO-Schichten für Dünnschichttransistoren
Volume: 2016,2
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-4377-8, April 2016

Online publication (PDF)

Gedruckte Elektronik stellt für bestimmte Anwendungen eine interessante Alternative zur konventionellen Halbleitertechnologie dar. Speziell für Massenartikel, bei welchen reduzierte Anforderungen an die ...

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45,80 €
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more... 5. Christian Tobias Banzhaf
Entwicklung und Charakterisierung von Trench-Gate-Strukturen für 4H-SiC Leistungs-MOSFETs
Volume: 2016,1
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-4372-3, April 2016

Das Ziel dieser experimentellen Arbeit ist die prozesstechnologische Umsetzung einer Trench-MOSFET-Technologie auf der Silicium-Seite von 4H-Siliciumcarbid sowie deren elektrische Charakterisierung und ...

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more... 6. Christian Strenger
Herstellung und Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldeffekttransistoren auf 4H-Siliciumcarbid
Volume: 2015,2
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-3495-0, March 2015

Die vorliegende Arbeit befasst sich mit der Herstellung und der Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldefekttransistoren auf der Siliciumseite von 4H-Siliciumcarbid (4H-SiC). ...

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48,80 €
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more... 7. Tim Behrens
Kupfer-Metallisierung für Siliciumcarbid-Leistungshalbleiter zur Steigerung der Lebensdauer
Volume: 2015,1
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-3357-1, February 2015

Online publication (PDF)

Neue Halbleiter-Generationen mit größerer Bandlücke, wie beispielsweise Siliciumcarbid (SiC), haben das Potenzial die Leistungsdichte zu steigern und können bei erhöhten Temperaturen eingesetzt werden. ...

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48,80 €
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more... 8. Martin Le-Huu
Entwicklung und Charakterisierung von integrierten Schaltungen auf Siliciumcarbid für den Betrieb bei hohen Temperaturen
Volume: 2011,5
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-0614-8, December 2011

Elektronische Schaltungen aus Siliciumcarbid (SiC) können aufgrund der großen Bandlücke des Materials bei Temperaturen oberhalb von 300°C betrieben werden. Dadurch erschließen sich Anwendungen, die ...

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45,80 €
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more... 9. Matthias Knörr
Verbinden von Leistungshalbleiterbauelementen durch Sintern von nanoskaligen Silberpartikeln
Volume: 2011,4
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-0352-9, September 2011

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more... 10. Martin Schellenberger
Modulares Steuerungskonzept für integrierte Messtechnik in der Halbleiterfertigung am Beispiel einer Mehrkammerprozessanlage
Volume: 2011,3
Series: Erlanger Berichte Mikroelektronik
978-3-8440-0264-5, August 2011

Online publication (PDF)

Die vorliegende Arbeit beschreibt die Entwicklung eines neuen, modularen Steuerungskonzepts für die Integration und Steuerung von Messtechnik in der Halbleiterfertigung. Der wesentliche Anwendungsbereich ...

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48,80 €
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